1. Общая информация:
| Название оборудования: | ИК-фурье спектрометр Bruker Vertex 70 c с приставкой диффузного отражения (высокотемпературной) |
| Марка: | Vertex 70 |
| Фирма-изготовитель: | Vertex 70 |
| Страна происхождения: | Германия |
| Год выпуска: | 2007 |
| Балансовая (восстановительная) стоимость (руб.): | 4115964.71 |
| Назначение оборудования (кратко): | Исследование состава и микроструктуры полимерных материалов, кинетики каталитических процессов. Регистрация ИК спектров in situ |
| Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения: | нет |
| Фотографии оборудования: |  |
2. Реализуемые методики:
| Наименование методики: | Методика определения микроструктуры каучуков (полибутадиен, полиизопрен и их сополимеры) |
| Название документа, содержащего методику: | нет |
| Наименование организации, аттестовавшей методику: (Указывается для аттестованных методик измерений) |
нет |
| Дата аттестации: (Указывается для аттестованных методик измерений) |
нет |
| Методика уникальна: | уникальная |
3. Предоставляемые услуги:
| Полное название услуги: | Исследование каталитических превращений углеводородов при высоких температурах in situ |
| Краткое описание услуги: | Регистрации ИК спектров различных материалов |
| Цена услуги, руб: | 10 000 руб. за исследование |
4. Необходимые условия проведения работ на оборудовании:
Требования к образцам:
Необходимо иметь полное описание образца (класс соединения, способ получения, участвующие в реакции соединения, возможные примеси и побочные продукты, растворители, ВОДА и т.п. Так же необходимо указать условия хранения. Маркировка образов обязательна и должна быть выполнена не вручную, а напечатана на принтере.
5. Описание оборудования и методик:
Фурье-спектрометр Vertex 70 предназначены для измерения оптических спектров пропускания, отражения в ИК диапазоне, определения концентрации различных органических неорганических веществ твердой жидкой фазах, продукции нефтехимического производства, органического синтеза, продуктах питания, фармацевтики т.п. НПВО приставка к спектрометру позволяет регистрировать спектры в режиме НПВО с использованием кристаллов Ge и ZnSe, так же есть возможность регистрировать спектры методом МНПВО на кристалле ZnSe. Термячейка диффузного отражения с регулируемым подогревом позволяет регистрировать спектры диффузного отражения при нагреве образца до 450 градусов Цельсия.